文献类型：期刊文献

中文题名：防止IC盗版的技术发展状况研究

作者：杨燕

第一作者：杨燕

机构：[1]贵州理工学院工程训练中心,贵州贵阳550003

第一机构：贵州理工学院工程训练中心

年份：2021

期号：3

起止页码：42-45

中文期刊名：贵州农机化

语种：中文

中文关键词：商业模式;过量生产;芯片盗版;IC计量

摘要：随着工业水平的发展,半导体行业从垂直商业模式转变成了水平商业模式,使芯片设计和制造分离,导致了芯片被过量生产等一系列问题。介绍了研究者们针对这一现状提出了多种技术来保护IC设计者的知识产权,并对这些技术的发展情况进行分析,为以后的研究提供方向及积累经验。